科利登系統(tǒng)有限公司(Credence Systems Corporation)日前宣布，該公司在2006年3月21日至23日參展2006年度SEMICON China展會。該展會是半導(dǎo)體設(shè)備、材料和服務(wù)供應(yīng)商加強(qiáng)在亞太及中國地區(qū)商業(yè)合作的極好機(jī)會。 
       科利登展出了其混合信號測試產(chǎn)品系列以及設(shè)計(jì)階段精確快速的失效分析產(chǎn)品系列。這些解決方案能幫助半導(dǎo)體生產(chǎn)商提高產(chǎn)品質(zhì)量和良率，并明顯地縮短了產(chǎn)品上市時(shí)間，減少總體成本。科利登在SEMICON China詳細(xì)介紹了以下產(chǎn)品：
Sapphire D-10 
       Sapphire D-10平臺是一款高產(chǎn)能、多功能圓片和封裝測試解決方案，特別為微控制器、無線基帶、顯示驅(qū)動及低成本消費(fèi)類混合信號芯片測試市場的低成本需求而設(shè)計(jì)。該平臺還能對應(yīng)200Mbps的高速圓片測試市場，支持高度的并行測試。系統(tǒng)的采用模塊化設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)，可靈活配置，多能支持768個(gè)數(shù)字通道，并配備高密度的模擬和混合信號儀器，而其成本只有競爭機(jī)型的一半左右。
完整的失效分析實(shí)驗(yàn)室方案 
       科利登完整的65nm器件實(shí)驗(yàn)室失效分析方案包括發(fā)射顯微鏡，具有時(shí)序精度的發(fā)射技術(shù)，激光掃描顯微鏡以及電路編輯等多種工具和設(shè)備。她還包括了相應(yīng)的軟件工具，把所有以上這些失效分析設(shè)備以及設(shè)計(jì)調(diào)試硬件方法集成為一個(gè)簡單易用，高效方便的實(shí)驗(yàn)室調(diào)試分析方案，滿足當(dāng)今先進(jìn)器件開發(fā)的需要。事實(shí)證明，科利登的完整實(shí)驗(yàn)室是一套高投資回報(bào)的整體方案，她通過優(yōu)化和提高整個(gè)產(chǎn)品質(zhì)量來提高產(chǎn)品的良率和可靠性。通過其強(qiáng)大的缺陷定位能力，該方案能減少產(chǎn)品開發(fā)過程中的工程和光罩費(fèi)用，并大大增加新產(chǎn)品搶占市場的機(jī)會。通過快速和精確的關(guān)鍵缺陷分析，科利登的完備失效分析實(shí)驗(yàn)室解決方案能加速產(chǎn)品的上市，同時(shí)還能通過優(yōu)化設(shè)計(jì)的特征參數(shù)降低生產(chǎn)中所需的裕量。
Falcon 
       科利登的Falcon系列能提供模擬、DSP和數(shù)字功能，專門用于汽車電子、模擬及電源類芯片的測試。Falcon能提供很高的產(chǎn)能，她擁有每個(gè)通道的200MHz數(shù)字控制器。通過其電腦與測試儀間的高速接口，以及并行、多端點(diǎn)和同時(shí)測試能力，F(xiàn)alcon能明顯減少測試的成本。Falcon的設(shè)計(jì)理念是把數(shù)字測試，模擬儀器，大電壓大電流能力和先進(jìn)的DSP技術(shù)等集成為一個(gè)單一系統(tǒng)。DSP儀器系列能提供一個(gè)大范圍的混合信號測試能力，其動態(tài)特性能達(dá)到200MS/s，并能支持為20位的高精度，能很好滿足像汽車電子，智能電源，數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換等多種應(yīng)用的并行測試。